质子激发X射线发射光谱分析

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释文:是20世纪60年代末发展起来的一种新的微量分析技术。经加速器加速的质子束聚焦后,空间分辨率达微米,可以激发微区样品的X射线,用高能量分辨率的Si(Li)半导体探测器,检测X射线能量及其强度,实现X射线光谱分析,并可同时进行背散射分析。与其他分析方法相比,具有检测限低,快速和可同时进行多元素分析等优点。已应用于环境科学生物学医学地质学等领域的研究工作。由于质子束的直径比较小,进行样品分析时,所需的样品量较少,0.n~n毫克试样即可满足要求。
中文名
质子激发X射线发射光谱分析
外文名
proton induced X-ray emis-sion spectral analysis
学    科
岩矿分析与鉴定
技术类型
微量分析技术
质子束可以聚焦,进行微区分析,即现代的质子探针分析。其测定元素的检测限比电子探针分析低2~3个数量级。[1] 
参考资料
  • 1.    地球科学辞典-甘肃省地矿局
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